- [技术文章]微电子器件真空热特性及可靠性试验2020年10月21日 09:12
- 随着电子技术的发展微电子器件和集成电路的性能不断提高体积不断缩小,为其在航空航天和舰载武器装备中的应用带来了极大的方便。但是由于其工作中高功耗、自升温以及真空环境,其可靠性受到了严重的影响。而由于航天装备的特殊性,器件的失效必然会引起整个系统的非正常工作。因此对微电子器件和集成电路在真空环境下的热特性及可靠性进行研究分析就显得尤为重要。
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