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HAST非饱和高压加速老化试验机
本设备广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。更多 +
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HAST高度加速寿命试验机
更多 +产品名称:HAST高度加速寿命试验机
温度范围:常温+20~+200℃(特别定制可达 +300℃、+500℃)
湿度范围:65%~100%R.H(可调)
压力范围:A(压力表+0.2~2.0kg/cm);B(压力表+0.2~3.0kg/cm);C(压力表+0.2~3.5kg/cm)
安全保护:试验时全程检测超温超压保护,第一阶段仪表内部超高温保护,第二阶段仪表内部加湿器缺水保护,第二阶段加湿管极限温度保护及第二阶段超高压保护,第三阶段紧急泄压保护,手动泄压保护,自动泄压等。
- [新能源产业]太阳能模块HAST(高度加速寿命)试验解决方案2020年06月24日 20:22
- 在太阳模模块规范IEC61215、UL1703所提到的DH(湿热试验),条件为85℃/85%R.H./1000小时,时间需要耗时42小时,现今业者甚至提高到1250小时以上,才能够看到模块出现退化效应,为了能够缩短试验时间,选择导入HAST(高度加速寿命)试验手法。
- 阅读(62)
- [技术文章]半导体可靠性测试总结与标准2020年09月05日 15:24
- 根据 JED22-A104 标准,温度循环 (TC) 让部件经受极端高温和低温之间的转换。进行该测试时,将部件反复暴露于这些条件下经过预定的循环次数。根据 JESD22-A110 标准,THB 和 BHAST 让器件经受高温高湿条件,同时处于偏压之下,其目标是让器件加速腐蚀。THB 和 BHAST 用途相同,但 BHAST 条件和测试过程让可靠性团队的测试速度比 THB 快得多。
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