国际标准分类中，低气压试验涉及到环境试验、光学设备、试验条件和规程综合、半导体分立器件、货物的包装和调运综合、电工和电子试验、光学和光学测量、电子电信设备用机电元件、流体存储装置、电气工程综合、电工器件、航空航天用电气设备和系统、机上设备和仪器、光纤通信、电子元器件综合、采矿设备、水果、蔬菜及其制品、电学、磁学、电和磁的测量。

在中国标准分类中，低气压试验涉及到、基础标准和通用方法、光学仪器综合、基础标准与通用方法、半导体分立器件综合、包装方法、标志、包装、运输、贮存综合、环境条件与通用试验方法、压力容器、火工产品、连接器、基础标准与通用方法、电力半导体器件、部件、电子元器件、光通信设备、电气装置用结构件、运输、吊装与加注设备、地质勘探设备综合、电气系统与设备、电子试验用仪器设备、航天器总体、技术管理。
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于低气压试验的标准
GB/T 2423.27-2020 环境试验 第2部分：试验方法 试验方法和导则：温度/低气压或温度/湿度/低气压综合试验
GB/T 2423.63-2019 环境试验 第2部分:试验方法 试验:温度(低温、高温)/低气压/振动(混合模式)综合
国家质检总局，关于低气压试验的标准
GB/T 5170.10-2017 环境试验设备检验方法 第10部分:高低温低气压试验设备
GB/T 12085.5-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第5部分：低温、低气压综合试验
GB/T 2423.26-2008 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验Z/BM:高温/低气压综合试验
GB/T 2423.25-2008 电工电子产品 环境试验.第2部分:试验方法.试验Z/AM:低温/低气压综合试验
GB/T 2424.15-2008 电工电子产品环境试验.温度/低气压综合试验导则
GB/T 2423.21-2008 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验M:低气压
GB/T 2423.59-2008 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验.Z/ABMFh:温度(低温、高温)/低气压/振动(随机)综合
GB/T 5170.10-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法.高低温低气压试验设备
GB/T 2423.102-2008 电工电子产品环境试验.第2部分:试验方法.试验:温度(低温、高温)/低气压/振动(正弦)综合
GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压
GB/T 2423.27-2005 电工电子产品环境试验 第2部分;试验方法 试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验
GB/T 5170.17-2005 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 低温/低气压/湿热综合顺序试验设备
GB/T 4857.13-2005 包装 运输包装件基本试验 第13部分;低气压试验方法
GB/T 5170.10-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 高低温低气压试验设备
GB/T 2423.42-1995 电工电子产品环境试验低温/低气压/振动(正弦)综合试验方法
GB/T 2424.24-1995 电工电子产品环境试验 温度(低温、高温)/低气压/振动(正弦)综合试验导则
GB/T 2424.15-1992 电工电子产品基本环境试验规程 温度/低气压综合试验导则
GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AM:低温/低气压综合试验
GB/T 2423.26-1992 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/BM:高温/低气压综合试验
GB/T 4857.13-1992 包装 运输包装件 低气压试验方法
GB/T 2423.21-1991 电工电子产品基本环境试验规程 试验M:低气压试验方法
GB/T 12085.5-1989 光学和光学仪器 环境试验方法 综合低温、低气压
GB/T 5170.17-1987 电工电子产品环境试验设备 基本参数检定方法 低温/低气压/湿热综合顺序试验设备
GB/T 2423.27-1981 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验方法