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HAST非饱和高压加速老化试验箱
更多 +内箱容积（圆桶）：￠300×D450、￠400×D550
温度范围：+110～+132℃、+110℃～+147℃
压力范围：压力表+0.2～2.0kg/cm2、压力表+0.2～3.0kg/cm2、压力表+0.3～3.5kg/cm2
湿度范围：65%～100%R.H(可调)
适用范围：本设备广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。
- [技术文章]LED灯各项老化检测的参考流程2020年09月08日 15:54
- LED灯高温高压及其冲击测试:针对对象: LED灯具(含LEDDriver的成品灯具)参照标准:行业经验测试方法:1,将5款LED灯具放置在一个室温为60°C的房间;2,通过调压器将LED灯具的输入电压调为最大额定输入电压的1.1倍;3,接通电源，点灯24H,并观察灯具是否有损坏、材料受热变形等异常现象;4,点灯测试后，通过继电器控制灯具在此环境下进行冲击测试，测试设置为:点灯20s、熄灯20s,循环100次。
- 阅读（74）
- [新能材料行业]博敏电子成功签约瑞凯采购PCT饱和高压加速老化试验机2020年08月20日 16:45
- 博敏电子是以高端印制电路板生产为主，集设计、加工、销售、外贸为一体的国内外知名企业，“PCT饱和高压加速老化试验机”广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间，这也是本次江苏博敏电子有限公司采购“PCT饱和高压加速老化试验机”的目的。
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