- [技术文章]芯片IC可靠性验证试验HTOL、HAST、HTSL2021年01月08日 16:45
- 高温老化寿命试验(HTOL)参考标准:JESD22-A108;测试条件:For devices containing NVM, endurance preconditioning must be performed before HTOL per Q100-005/对于含有NVM的设备,在使用HTOL之前必须按照Q100-005进行耐久预处理
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