电子产品非散热试验样品温度突变低温试验
作者:瑞凯小编编辑:瑞凯仪器来源:www.dgrk17.com发布时间:2020-12-24 16:24:00
1、目的
提供一种标准的试验程序,以用来确定经受温度突变不致产生损伤作用的非散热电工、电子产品(包括元件、设备及其他产品)低温下贮存和使用的适应性。
2、说明
2.1.本标准是将具有室温的试验样品放入温度为有关标准规定值的高低温试验箱内。
2.2.试验样品达到温度稳定后,在该条件下噪露规定的持续时间。
2.3.本试验通常采用强迫空气循环。

高低温试验箱-瑞凯
3、初始检测
按有关标准规定对试验样品进行外观检查及电气和机械性能的检测。
4、条件试验
4.1.将高低温试验箱(室)温度先调控到规定的试验温度,然后把处于试验室温度下的试验样品在不包装、不通电、“准备使用”状态,按正常位置或其他规定放入试验箱(室)内。当实际上试验样品是和某种特定的安装架一起使用时,试验时就应使用这些装置一起进行试验。
4.2.使试验箱(室)的温度恢复到规定的试验温度,并使试验样品达到温度稳定。
4.3.对于工作性试验,必须按有关标准规定对试验样品给予通电或电气负载,并检查确定能否达到规定的功能。
若有关标准有所要求,试验样品应按其规定的工作循环和负载条件(若可行时)处于运行状态,或者不予通电。
注:此时试验样品即使处于运行或在负载条件下,只要表面温度不超过试验温度5℃,均认为是非散热的。
4.4.试验样品在此温度下保持规定的时间,持续时间应从温度达到稳定时算起。
4.5.若有关标准要求进行中间检测,则按第5条进行。
4.6.条件试验结束后,应使试验样品恢复原状。对通电运行或加电气负载的试验样品,应在恢复程序前停止通电或卸去负载。
5、中间检测
有关标准可规定在条件试验期间或结束时(试验样品仍在试验箱内)加负载和(或)测量,需要时应规定测量的项目和时间。测量时,试验样品不应从试验箱(室)中取出。
注:①不得在条件试验期间把试验样品从试验箱(室)内取出,并在进行恢复前的测量后重新放入试验箱(室)内
②如在持续时间结束前需要了解试验样品在特定时间的性能,则对每个特定的时间应另外增加一批试验样品。进行恢复和最后的测量,应对每一批试验样品分别进行。
6、恢复
6.1.试验样品应在标准大气条件下进行恢复直至解冻。
注:当标准大气条件对试验样品不适宜时,有关标准可规定其他恢复条件.
6.2.为了除去水滴,可用手抖动试验样品,或用室温的空气进行短时吹风。
6.3.试验样品在标准大气条件下恢复时,恢复时间要足以使其达到温度稳定,最少为1h.
当几个试验样品同时进行试验,而1h的恢复时间又足够时,则最长恢复时间为2h,所有测量必须在这一时间终了前进行完毕。
6.4.若有关标准有要求,要在恢复期间对试验样品通电或加负载,并连续地测量其性能。
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