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HAST非饱和高压加速老化试验机
本设备广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。更多 +
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HAST非饱和高压加速老化试验箱
更多 +内箱容积(圆桶):¢300×D450、¢400×D550
温度范围:+110~+132℃、+110℃~+147℃
压力范围:压力表+0.2~2.0kg/cm2、压力表+0.2~3.0kg/cm2、压力表+0.3~3.5kg/cm2
湿度范围:65%~100%R.H(可调)
适用范围:本设备广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。
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HAST高度加速寿命试验机
更多 +产品名称:HAST高度加速寿命试验机
温度范围:常温+20~+200℃(特别定制可达 +300℃、+500℃)
湿度范围:65%~100%R.H(可调)
压力范围:A(压力表+0.2~2.0kg/cm);B(压力表+0.2~3.0kg/cm);C(压力表+0.2~3.5kg/cm)
安全保护:试验时全程检测超温超压保护,第一阶段仪表内部超高温保护,第二阶段仪表内部加湿器缺水保护,第二阶段加湿管极限温度保护及第二阶段超高压保护,第三阶段紧急泄压保护,手动泄压保护,自动泄压等。
- [半导体芯片行业]集成电路可靠性试验项目、方法及标准汇总2020年12月24日 16:07
- 印制电路板(PCB)一直是电子封装的基本构造模块,作为各种电子元器件的载体和电路信号传输的枢纽,其质量和可靠性决定了整个电子封装的质量和可靠性。而随着电子产品的小型化、轻量化和多功能化要求,以及无铅、无卤进程的推动,对PCB可靠性的要求会越来越高,因此如何快速定位PCB可靠性问题并作相应的可靠性提升成为PCB企业的重要课题之一。
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- [新能源产业]太阳能模块HAST(高度加速寿命)试验解决方案2020年06月24日 20:22
- 在太阳模模块规范IEC61215、UL1703所提到的DH(湿热试验),条件为85℃/85%R.H./1000小时,时间需要耗时42小时,现今业者甚至提高到1250小时以上,才能够看到模块出现退化效应,为了能够缩短试验时间,选择导入HAST(高度加速寿命)试验手法。
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- [技术文章]芯片IC可靠性验证试验HTOL、HAST、HTSL2021年01月08日 16:45
- 高温老化寿命试验(HTOL)参考标准:JESD22-A108;测试条件:For devices containing NVM, endurance preconditioning must be performed before HTOL per Q100-005/对于含有NVM的设备,在使用HTOL之前必须按照Q100-005进行耐久预处理
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- [技术文章]温湿度环境试验对样品有哪些重要的作用2021年01月03日 15:25
- 温湿度环境试验箱能够为各类电子产品,机电装备,汽车电子,通讯设备以及中型装备开展高低温贮存,高低温工作,温湿度循环,温湿度交变,元器件老化,温度冲击等环境适应性试验,筛选试验,寿命试验等。
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- [技术文章]HAST(非饱和)高压加速试验箱特征及故障解决方法2020年12月29日 15:23
- 非饱和高压加速老化试验机高压加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
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- [技术文章]微电子器件真空热特性及可靠性试验2020年10月21日 09:12
- 随着电子技术的发展微电子器件和集成电路的性能不断提高体积不断缩小,为其在航空航天和舰载武器装备中的应用带来了极大的方便。但是由于其工作中高功耗、自升温以及真空环境,其可靠性受到了严重的影响。而由于航天装备的特殊性,器件的失效必然会引起整个系统的非正常工作。因此对微电子器件和集成电路在真空环境下的热特性及可靠性进行研究分析就显得尤为重要。
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- [技术文章]LED专用恒温恒湿试验机应用标准2020年09月23日 09:02
- LED路灯可靠线寿命试验项目一般包括:温湿度循环试验,温度循环试验,高温保存试验,耐湿性,振动,冲击,焊锡耐热性,焊锡附着性,端子强度试验,防尘试验,淋雨试验,盐雾试验,因为试验所要满足的标准也非常多,以下是LED专用恒温恒湿试验机中需要执行和满足的标准。
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- [新能材料行业]博敏电子成功签约瑞凯采购PCT饱和高压加速老化试验机2020年08月20日 16:45
- 博敏电子是以高端印制电路板生产为主,集设计、加工、销售、外贸为一体的国内外知名企业,“PCT饱和高压加速老化试验机”广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间,这也是本次江苏博敏电子有限公司采购“PCT饱和高压加速老化试验机”的目的。
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